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FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM 是高性能、結(jié)構(gòu)緊湊且用途廣泛的X射線測(cè)量?jī)x器，專(zhuān)為無(wú)損涂層厚度測(cè)量與材料分析而設(shè)計(jì)。憑借的精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性，該系列儀器廣泛應(yīng)用于質(zhì)量保證、來(lái)料檢驗(yàn)及生產(chǎn)過(guò)程控制等領(lǐng)域。

典型應(yīng)用包括：

螺釘、螺栓、螺母等小型零部件的涂層厚度檢測(cè)

觸點(diǎn)及各類(lèi)電子元器件的分析

電鍍槽液成分的測(cè)定

XULM 240 型號(hào)額外適用于：

極小零件、插頭觸點(diǎn)及導(dǎo)線的高精度測(cè)量

印刷電路板（PCB）的手動(dòng)檢測(cè)

珠寶與鐘表行業(yè)的精細(xì)測(cè)量

儀器采用比例計(jì)數(shù)管，實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，顯著提升測(cè)量精度。得益于FISCHER的基本參數(shù)法（Fundamental Parameters Method），系統(tǒng)可對(duì)固體、液體樣品及多層涂層體系進(jìn)行分析，通常無(wú)需額外校準(zhǔn)，大幅節(jié)省時(shí)間和操作成本。

XULM 240 配備微焦點(diǎn)X射線源，并支持電動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔徑和初級(jí)濾光片，確保對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行精準(zhǔn)聚焦測(cè)量，特別適合復(fù)雜幾何形狀或高密度排布的小型工件。

憑借出色的重復(fù)性與極低的重新校準(zhǔn)頻率，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY 系列為工業(yè)質(zhì)量控制提供了高效、可靠的解決方案。